SN74ABT8952DW - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Número da peça de fabricante
Número de peça interno
Fabricante
Descrição breve
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Status RoHS
Sem chumbo / RoHS complacente
Tempo de entrega
1-2 dias
Quantidade disponível
23863 Pieces
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Especificações para SN74ABT8952DW
Qualidade garantida : 365 dias de garantia
Recurso de estoque : Distribuidor Franqueado / Fabricante Direto
País de origem : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Número da peça : SN74ABT8952DW
Fabricante : Texas Instruments
Descrição : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Series : 74ABT
Status da Peça : Obsolete
Tipo de lógica : Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Tensão de alimentação : 4.5V ~ 5.5V
Número de bits : 8
Temperatura de operação : -40°C ~ 85°C
Tipo de montagem : Surface Mount
Pacote / caso : 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor : 28-SOIC
Peso : -
Condição : Novo e original
Documentos para SN74ABT8952DW
Folhas de dados : SN74ABT8952DW.pdf
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