SN74LVTH18646APMG4 - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Número da peça de fabricante
Número de peça interno
Fabricante
Descrição breve
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Status RoHS
Sem chumbo / RoHS complacente
Tempo de entrega
1-2 dias
Quantidade disponível
45084 Pieces
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Especificações para SN74LVTH18646APMG4
Qualidade garantida : 365 dias de garantia
Recurso de estoque : Distribuidor Franqueado / Fabricante Direto
País de origem : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Número da peça : SN74LVTH18646APMG4
Fabricante : Texas Instruments
Descrição : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Series : 74LVTH
Status da Peça : Active
Tipo de lógica : ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Tensão de alimentação : 2.7V ~ 3.6V
Número de bits : 18
Temperatura de operação : -40°C ~ 85°C
Tipo de montagem : Surface Mount
Pacote / caso : 64-LQFP
Pacote de Dispositivo do Fornecedor : 64-LQFP (10x10)
Peso : -
Condição : Novo e original
Documentos para SN74LVTH18646APMG4
Folhas de dados : SN74LVTH18646APMG4.pdf
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