SN74BCT8374ADWRE4 - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Número da peça de fabricante
Número de peça interno
Fabricante
Descrição breve
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Status RoHS
Sem chumbo / RoHS complacente
Tempo de entrega
1-2 dias
Quantidade disponível
39030 Pieces
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Especificações para SN74BCT8374ADWRE4
Qualidade garantida :
365 dias de garantia
Recurso de estoque :
Distribuidor Franqueado / Fabricante Direto
País de origem :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Número da peça :
SN74BCT8374ADWRE4
Fabricante :
Texas Instruments
Descrição :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Series :
74BCT
Status da Peça :
Obsolete
Tipo de lógica :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação :
4.5V ~ 5.5V
Número de bits :
8
Temperatura de operação :
0°C ~ 70°C
Tipo de montagem :
Surface Mount
Pacote / caso :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor :
24-SOIC
Peso :
-
Condição :
Novo e original
Documentos para SN74BCT8374ADWRE4
Folhas de dados :
SN74BCT8374ADWRE4.pdf
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