SN74BCT8374ANT - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Número da peça de fabricante
Número de peça interno
Fabricante
Descrição breve
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Status RoHS
Sem chumbo / RoHS complacente
Tempo de entrega
1-2 dias
Quantidade disponível
39174 Pieces
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Especificações para SN74BCT8374ANT
Qualidade garantida : 365 dias de garantia
Recurso de estoque : Distribuidor Franqueado / Fabricante Direto
País de origem : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Número da peça : SN74BCT8374ANT
Fabricante : Texas Instruments
Descrição : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Series : 74BCT
Status da Peça : Obsolete
Tipo de lógica : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação : 4.5V ~ 5.5V
Número de bits : 8
Temperatura de operação : 0°C ~ 70°C
Tipo de montagem : Through Hole
Pacote / caso : 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor : 24-PDIP
Peso : -
Condição : Novo e original
Documentos para SN74BCT8374ANT
Folhas de dados : SN74BCT8374ANT.pdf
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